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技術(shù)研發(fā)
浙江省宏豐功能性復(fù)合材料
重點(diǎn)企業(yè)研究院
CNAS國家認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室

CNAS國家認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室由公司檢測中心發(fā)展而來,檢測中心1997年成立,2012年擴(kuò)建,2014年獲得由中國合格評定國家認(rèn)可委員會頒發(fā)的ISO/IEC 17025體系認(rèn)可證書。


公司CNAS國家認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室是國內(nèi)同行中檢測設(shè)施完善的材料測試基地,為公司材料研發(fā)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、材料應(yīng)用研究和產(chǎn)品失效分析提供一站式的檢測和試驗(yàn)解決方案。目前已形成了計(jì)量校準(zhǔn)、化學(xué)成分分析、組織結(jié)構(gòu)分析、物理機(jī)械性能檢測和電氣性能試驗(yàn)等一套完整的材料檢測試驗(yàn)體系。同時,實(shí)驗(yàn)室在各個專業(yè)領(lǐng)域都配置專業(yè)的技術(shù)和管理人員,以及業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的分析試驗(yàn)儀器設(shè)備。


公司CNAS國家認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室自建立以來,檢管理逐步完善,檢測能力不斷提升,形成了完整有效的質(zhì)量管理體系,以規(guī)范的行為、過硬的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)贏得客戶贊譽(yù)。

掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
查看項(xiàng)目成果

GeminiSEM 300掃描電子顯微鏡能同時進(jìn)行Inlens二次電子成像和背散射電子成像,分辨率可達(dá)0.7nm,可實(shí)現(xiàn)快速,高質(zhì)量,無畸變的大范圍成像和亞納米分辨成像。配備100mm2窗口EDS探測器,能夠快速完成點(diǎn)、線、面元素的定量測定;EBSD探測器,采集無畸變、百萬像素分辨率的花樣,用于精細(xì)的應(yīng)變和相分析。

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
查看項(xiàng)目成果

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀具備垂直雙觀測結(jié)構(gòu)(DSOI),提升了靈敏度,同時降低了樣品基體效應(yīng)。優(yōu)異的ORCA光路結(jié)構(gòu),可同時讀取130-770nm譜線信號,和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學(xué)系統(tǒng)相比,光強(qiáng)度信號提升可高達(dá)5倍,紫外/遠(yuǎn)紫外區(qū)的靈敏度提高無與倫比。


直讀光譜儀
直讀光譜儀
直讀光譜儀

SPECTROLAB S 擁有世界上第一個基于CMOS的探測器的記錄系統(tǒng),該系統(tǒng)非常適合于高端金屬分析。從微量元素到多基體應(yīng)用,它提供了極其快速、高度準(zhǔn)確、異常靈活的技術(shù)選擇。


原子吸收光譜儀
原子吸收光譜儀
原子吸收光譜儀

novAA 800F采用集成的8燈座,具有編碼燈識別功能,氘空心陰極燈背景校正,經(jīng)驗(yàn)證的單、雙光束模式和發(fā)射模式,以及最新的SiOSens半導(dǎo)體固態(tài)檢測器。 豐富智能的配件,最大程度地提高了檢測效率,極佳的安全性和分析程序的用戶友好性,適合高效常規(guī)分析。


萬能材料試驗(yàn)機(jī)
萬能材料試驗(yàn)機(jī)
萬能材料試驗(yàn)機(jī)
萬能材料試驗(yàn)機(jī)
查看項(xiàng)目成果

68TM-30型萬能材料試驗(yàn)機(jī)搭載的30kN和1kN載荷傳感器在0.1~100%范圍內(nèi)精度可達(dá)0.5級。整個試驗(yàn)系統(tǒng)可以進(jìn)行集成化數(shù)據(jù)閉環(huán)控制和采集、傳感器的自動識別和標(biāo)定。配備的高精度非接觸式視頻引伸計(jì)AVE2分辨率為0.5微米,有正交極化照明系統(tǒng)和CDAT風(fēng)扇專利可消除人員、照明、氣流對實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響,得到可重復(fù)性高準(zhǔn)確的應(yīng)變測量結(jié)果。


3D輪廓儀
3D輪廓儀
3D輪廓儀
3D輪廓儀
查看項(xiàng)目成果

VR-5200 3D輪廓儀投射條紋狀結(jié)構(gòu)光,通過高精細(xì)CMOS傳感器使光線成像,測量出各點(diǎn)的高度和位置。配備的低倍鏡頭使測量區(qū)域大至200×100×50 mm,高倍鏡頭使顯示分辨率小至0.1μm,可實(shí)現(xiàn)非接觸批量化測量產(chǎn)品形狀,起伏,粗糙度。


圖像尺寸測量儀
圖像尺寸測量儀
圖像尺寸測量儀
圖像尺寸測量儀
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IM-8020采用了雙遠(yuǎn)心鏡頭,擁有出眾的邊緣檢測能力,可實(shí)現(xiàn)一鍵測量具有不同高度差的樣品尺寸,憑借2000 萬像素CMOS和邊緣檢測新算法,檢測性能是傳統(tǒng)機(jī)型的3 倍, 測量區(qū)域可達(dá)300mm × 200mm,測量速度是傳統(tǒng)機(jī)型的2 倍. 只需數(shù)秒即可測量完最多300 個部位。能快速、正確、簡單的測量,大幅度提高測量精度,縮短測量時間和人為誤差。


激光粒度儀
激光粒度儀
激光粒度儀
激光粒度儀
查看項(xiàng)目成果

HELOS/BR型激光粒度儀配置了RODOS干法分散系統(tǒng),能有效的分散粉體,滿足特殊粒度檢測要求,實(shí)現(xiàn)了快速且高重復(fù)性的粒度分析。測量范圍:0.3~175μm,測量相對精度:<0.3%。


同步熱分析儀
同步熱分析儀
同步熱分析儀
同步熱分析儀
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STA 449 F3具有堅(jiān)固、靈活、易于操作的特點(diǎn),非常適合同時測試熱效應(yīng)和質(zhì)量的變化,綜合了高性能熱流型DSC和超高靈敏度天平,可以提供極致的稱重與測量范圍。


檢測標(biāo)準(zhǔn)
電觸頭材料密度的測定-L-WZHF-TC10-003-r2-1

范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電觸頭材料密度的測定方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種電觸頭材料的密度的測量。

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電觸頭材料體積電阻率的測定-L-WZHF-TC10-002-r2-1

范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電觸頭材料體積電阻率的測定方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種電觸頭材料的體積電阻率的測量。

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電觸頭材料中銀含量的測定-L-WZHF-TC10-001-r3-1

范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電觸頭材料中銀含量的測定方法。

硫氰酸鹽容量法適用非熔滲法制造的電觸頭材料銀含量的測定。測定范圍:

5.00%~99.00%。

碘量法適用于熔滲法制造的銀鎢、銀碳化鎢電觸頭材料中銀含量的測定。測定范圍:

25.00%~85.00%。

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低壓電器試驗(yàn)站

公司低壓電器實(shí)驗(yàn)站成立于2013年,通過模擬材料的實(shí)際應(yīng)用場景研究其應(yīng)用特性,為新項(xiàng)目進(jìn)行前期摸底試驗(yàn),為新材料提供前瞻性的產(chǎn)品適用性研究。


通過多年不斷發(fā)展,已形成了較完整的低壓電器試驗(yàn)?zāi)芰Γ勺鼋佑|器、斷路器、繼電器、保護(hù)器等的電壽命、溫升、短路等項(xiàng)目。

低壓電器試驗(yàn)?zāi)芰?/div>
保護(hù)器試驗(yàn)?zāi)芰?/div>
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